在電子產(chǎn)品的設計與制造過程中，跌落試驗是一項至關重要的測試環(huán)節(jié)。GJB（國防科學技術工業(yè)委員會）標準規(guī)定了電子產(chǎn)品在特定條件下進行的跌落試驗的具體要求。以下是對GJB跌落試驗標準的詳細介紹。

GJB跌落試驗標準主要包括以下幾個方面：

一、試驗目的 GJB跌落試驗旨在檢驗電子產(chǎn)品在模擬實際使用環(huán)境中，因意外跌落造成的損害程度，以及產(chǎn)品結構設計的耐沖擊性能。 二、試驗設備 跌落試驗機：應符合國家標準，具備可調節(jié)的跌落高度和角度，以確保試驗的準確性。 試樣臺：用于放置被測試的產(chǎn)品，應具有足夠的穩(wěn)定性和平面度。 測量工具：如游標卡尺、電子秤等，用于測量產(chǎn)品的尺寸和重量。 三、試驗條件 跌落高度：根據(jù)產(chǎn)品的重量和尺寸，分為幾個等級，通常為0.5米、1米、1.5米等。 跌落角度：產(chǎn)品應以自由落體的方式，垂直于試驗臺面進行跌落。 試驗次數(shù)：根據(jù)產(chǎn)品的設計要求和使用環(huán)境，確定試驗次數(shù)，一般為3次至10次。 四、試驗步驟 將產(chǎn)品放置在試樣臺上，調整試驗機至指定高度。 啟動試驗機，使產(chǎn)品從規(guī)定高度自由落體，撞擊試驗臺面。 觀察產(chǎn)品跌落后的外觀、結構及功能狀態(tài)，記錄數(shù)據(jù)。 重復上述步驟，直至完成規(guī)定的試驗次數(shù)。 五、試驗結果評定 外觀檢查：檢查產(chǎn)品跌落后是否出現(xiàn)明顯損壞，如開裂、變形等。 功能測試：檢查產(chǎn)品在跌落后的功能是否正常，如按鍵、顯示屏、接口等。 結構評定：分析產(chǎn)品在跌落過程中的損壞部位，評估結構設計的合理性。 通過GJB跌落試驗標準的實施，可以有效提升電子產(chǎn)品在極端環(huán)境下的可靠性，為用戶帶來更加安全、穩(wěn)定的體驗。同時，也為電子產(chǎn)品的設計者和制造者提供了明確的測試依據(jù)和改進方向。